基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

作者：石君; 张谦; 裴丹丹

来源：电子与封装, 2020, 20(02): 31-33.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0206

• 自动测试系统
• 异步信号
• 系统级芯片
• 搜索匹配

大部分的系统级芯片(SoC)具有异步信号,基于自动测试系统(ATE)很难实现稳定的测试。通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置,自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配,可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试。