FPGA中宽边译码器的测试方法研究

作者：廖永波; 李平; 阮爱武; 李文昌; 李威

来源：仪器仪表学报, 2010, (07): 1638-1643.

DOI：10.19650/j.cnki.cjsi.2010.07.033

• FPGA
• 宽边译码器
• 测试方法
• 配置图形
• 测试向量 FPGA
• wide edge decoder
• test scheme
• configuration pattern
• test vector

现有的关于FPGA的测试主要集中在可编程逻辑和互连线资源,而没有涉及FPGA中的宽边译码器的测试。本文提出了一种测试FPGA中宽边译码器的方法,该方法实现了FPGA中的宽边译码器的逻辑资源及其相连的长线资源的全覆盖测试。该实验采用Xilinx公司的XC4000E系列芯片,在基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统中进行测试。实验结果表明,用本文提出的4次配置图形和测试向量能够完成全覆盖测试。

• 单位
  电子薄膜与集成器件国家重点实验室; 电子科技大学