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摘要
为提高干涉型成像光谱仪空间目标测量精度，降低传感器中各个探测元响应度差异，提升成像光谱仪在轨辐亮度测量准确性。提出了一种基于定标场反射率测量参数结合计算程序仿真与成像仪在轨测量数据比对的空间定标方法。首先在介绍高光谱定标概念的基础上，提出了不同光谱响应函数、不同场地条件下的高精度入瞳亮度计算方法；其次对干涉型成像光谱仪进行在轨相对辐射修正，校正传感器中各探测元相应度差异，利用反射率基法开展了在轨绝对辐射定标试验，针对可见光、近红外波段建立在轨辐射定标计算模型。解决了包括多种反射率场地、高精度测试区域指示的试验方案优化设计问题，实现了星载高分辨率干涉型成像光谱仪的在轨高精度定标。研究结果表明，采用该定标技术使成像光谱仪的在轨测量精度达到5%。此外，定标场地环境条件对模型计算精度有一定影响，大面积均匀场适合采用反射率基法，小面积均匀场则引入邻近像元效应进行计算，通过布设人工指示目标，可提高反射率测量数据的准确性。所采用的定标技术已获得工程应用。
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单位中国空间技术研究院; 哈尔滨工业大学
