磁柱表面缺陷边缘检测算法优化研究

作者：肖晶晶; 何海斌^*; 张华桢; 李健

来源：科技创新与应用, 2023, 13(13): 13-17.

DOI：10.19981/j.CN23-1581/G3.2023.13.003

• 磁柱缺陷
• 边缘检测算法
• 非极大值
• 双阈值
• 系统优化

磁柱应用十分广泛，且表面缺陷对其性能影响极大。然而，国内外对磁柱表面结疤、黑片缺陷的边缘检测算法研究很少。该文根据磁柱表面结疤、黑片缺陷的特征，基于优化的Canny提出一种适用于磁柱表面结疤、黑片缺陷的检测算法。在非极大值抑制过程中，将4个标准梯度方向优化为4个方向区域，图像中任意像素点梯度方向不再受限于4个标准方向；在双阈值处理过程中，将图像灰度级为t的领域灰度设定为[-m,m]，利用优化后的均值■(t)计算出相应的类间方差σ*2(t)、最佳阈值t*，实现通过高低阈值自适应选取来保留磁柱表面缺陷图像真正的弱边缘。研究结果表明，与Sobel、Canny算法检测结果相比，优化的Canny算法检测结果的缺陷边缘清晰度更高、连续性更好，且能完整检测出缺陷边缘，检测效果更佳。

• 单位
  电子工程学院; 江西应用技术职业学院