摘要

选择半导体用Mg3Sb2作为测试基材,通过Pb掺杂制备Mg3Sb2Pbx化合物,并分析了Pb掺杂过程引起的载流子有效质量与迁移率的变化。结果表明:Mg3Sb2中的Pb掺杂量为0.02~0.03时较优。Mg3Sb2Pbx试样形成了致密组织,密度达到了理论密度95%以上,形成了相近的断口微观形貌。元素Sb、Mg、Pb都呈均匀分布状态,未发生元素偏聚,可以推断试样各部位的组织成分均匀,具备相近的性能。提高Pb含量后,试样获得了更高电导率,Seebeck系数不断降低。随着Pb掺杂量的增大,材料的载流子迁移率降低。随着温度逐渐升高,试样较未掺杂试样获得了更大的ZT值。掺入Pb改善改善电输运性能,获得更高的ZT值。

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