CMC芯片架构及并行测试方法

作者：闫晓风; 刘丹; 刘敏

来源：中国仪器仪表, 2015, (08): 22-24.

• CMC芯片
• 芯片并行测试技术

CMC芯片是面向工业控制领域开关量控制、模拟量控制、运动控制、信息采集、工业无线、低功耗和分布控制几个方面的片上控制系统,本文介绍CMC芯片的总体软硬件架构,并给出CMC芯片并行测试技术和方法。

• 单位
  机械工业仪器仪表综合技术经济研究所