ATR-FTIR光谱技术在聚合物膜研究中的应用

作者：江艳; 沈怡; 武培怡

来源：化学进展, 2007, 19(01): 173-185.

DOI：10.3321/j.issn:1005-281X.2007.01.022

• 衰减全反射红外光谱技术
• 逐层自组装技术
• 扩散行为
• 二维相关光谱技术

红外光谱是聚合物研究中常用的一种表征手段,而衰减全反射红外光谱(ATR-FTIR)更是由于在研究聚合物薄膜方面具有显著的优势而被广泛使用。逐层组装(layer-by-layer assembly)技术是一种常用的组装聚合物超薄膜的方法,ATR-FTIR光谱技术的引入可以在获取膜组装过程中相应信息的同时有效地避免表征过程中对样品的损害。另一方面,ATR-FTIR方法与二维相关光谱技术(two-dimensional correlationspectroscopy,2D correlation spectroscopy)相结合也是研究小分子(主要是水分子)在聚合物薄膜中的渗透行为的有效手段。本文对ATR-FTIR的基本原理和显著特点作了介绍,并以实例阐述该方法在逐层组装技术和水分子在薄膜内渗透行为研究两方面的应用。

• 单位
  聚合物分子工程教育部重点实验室; 复旦大学