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摘要
本发明涉及一种工业CT图像中弱边缘尺寸测量方法,其包含如下步骤：步骤一、分别采集被测物体和标准试块的CT图像,其中标准试块的密度和厚度与被测物体一致；步骤二、获取标准试块的CT图像垂直界面一维点扩散函数；步骤三、获取被测物体待测尺寸的灰度曲线；步骤四、对被测物体待测尺寸的两端边界分别进行复原重构；步骤五、根据像素对应实际距离对被测物体待测尺寸长度进行测量。与现有技术相比,本发明的优点在于：采用本发明提供的方法获取的被测物体待测尺寸速度快、精度高。
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本发明涉及一种工业CT图像中弱边缘尺寸测量方法,其包含如下步骤：步骤一、分别采集被测物体和标准试块的CT图像,其中标准试块的密度和厚度与被测物体一致；步骤二、获取标准试块的CT图像垂直界面一维点扩散函数；步骤三、获取被测物体待测尺寸的灰度曲线；步骤四、对被测物体待测尺寸的两端边界分别进行复原重构；步骤五、根据像素对应实际距离对被测物体待测尺寸长度进行测量。与现有技术相比,本发明的优点在于：采用本发明提供的方法获取的被测物体待测尺寸速度快、精度高。
