摘要

利用透射电子显微技术研究了单斜相阿利特的显微结构。选区电子衍射花样中所有的衍射斑点的位置可通过公式ha*+kb*+lc*±m(a6+b6+2c6)进行表达(其中:h,k,l为Miller指数;a*,b*,c*为倒易基矢;m=0,1,2或3)。结果表明:在M*型阿利特中存在着沿[112]方向的一维结构调制。调制结构可以通过高分辨透射电子显微镜进行观察,发现沿[112]方向存在着波状条纹,条纹宽度为(112)晶面间距的6倍。

  • 单位
    南京工业大学; 材料化学工程国家重点实验室; 材料科学与工程学院; 淮海中联水泥有限公司

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