超高精细度光学腔中低损耗的测量

作者：李利平; 刘涛; 李刚; 张天才; 王军民

来源：Acta Physica Sinica, 2004, 53(05): 1401-1405.

DOI：10.3321/j.issn:1000-3290.2004.05.026

• 超高精细度
• F-P腔
• 腔衰荡 supermirror(super-finesse)
• F-P cavity
• cavity ringdown

对高精细度光学腔的微弱损耗进行了测量 .利用不同扫描速度下的腔衰减振荡信号 ,得到了腔的衰荡时间 .通过与相同镜面组成的超短微腔的直接精细常数的测量对比 ,说明了这种方法的可靠性 .本实验通过对所得到的光腔衰荡信号的衰荡时间、衰荡强度变化进行计算处理得到光学腔的精细度为F =(2 .13± 0 .0 9)× 10 5;得到腔镜的反射率为R =0 .999985 2± 0 .0 0 0 0 0 0 6 ,即腔的总损耗为 (2 9.5 0± 1.2 4 )ppm .由于该腔的线宽在 10 0kHz以下 ,远低于一般的半导体激光器线宽 ,因此可以利用此腔来测其线宽 .实验中测得DBR半导体激光器的线...

• 单位
  量子光学与光量子器件国家重点实验室; 山西大学