氟牙症牙本质黏结界面银渗漏的实验研究

作者：殷红; 何惠明; 赵信义; 李江

来源：牙体牙髓牙周病学杂志, 2007, 17(06): 342-345.

DOI：10.3969/j.issn.1005-2593.2007.06.010

• 氟牙症
• 牙本质
• 渗漏
• 背散射电子成像

目的:研究氟牙症严重程度对牙本质黏结界面银渗漏的影响。方法:选择轻、中、重度(Dean氏分类)人离体有氟牙症的磨牙各4个,充分暴露面牙本质后,在该表面上顺牙体长轴做切槽,将每个牙面均分为近远中两部分,分别用黏结剂Prime&BondNT(NT)和Contax进行黏结。37℃蒸馏水中浸泡24h后,500g/L氨化硝酸银染色。然后将试件进行包埋和切片(垂直于切槽),背散射电子成像观察测量正反两面银染的深度。结果:轻、中、重度氟牙症牙本质黏结界面的银染深度分别为:NT黏结剂(339.33±92.68)μm,(335.06±96.59)μm,(708.16±131.55)μm;Contax黏结剂(264.00±96.32)μm,(401.44±92.34)μm,(618.86±165.95)μm。结论:对同一种黏结剂,重度氟牙症牙本质黏结界面银渗漏程度明显高于其他两组(P<0.05);但对于相同程度的氟牙症,不同黏结剂界面银渗漏程度无统计学差异(P>0.05)。

• 单位
  第四军医大学