摘要
本发明公开了一种基于再生长和离子注入的GaN凹槽阳极肖特基二极管制备方法,主要解决现有方法制作的GaN肖特基二极管欧姆接触电阻较大的问题。其实现方案为:1)在清洗后的外延片上淀积SiN;2)在淀积有SiN的外延片上进行欧姆区离子注入,并将其清洗后进行热退火处理;3)在离子注入后的外延片上淀积SiO2;4)在淀积有SiO2的外延片上依次进行源漏区凹槽光刻和凹槽刻蚀,并进行清洗;5)在清洗后的外延片上生长n+-GaN,并去除生长有n+-GaN外延片上的剩余SiO2层,再进行阴极金属淀积,并热退火;6)在退火后的外延片上刻蚀出阳极凹槽并进行阳极制作。本发明的欧姆接触电阻低,刻蚀工艺简单,可用于制作电力电子器件。
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