基于CBPSO的板级电路测试性设计优化方法研究

作者：吕晓明; 刘晓芹; 黄考利; 刘耀周

来源：系统工程学报, 2010, (06): 791-797.

• 测试性设计
• 边界扫描
• 板级电路
• 混沌优化
• 二进制粒子群优化 design for testability
• boundary scan
• board-level circuit
• chaos optimization
• binary particle swarm optimization

基于边界扫描的板级电路在测试性改善一定条件下,设计复杂性最小化问题属于组合优化问题,同时也是NP-难题.针对该组合优化问题提出了基于混沌二进制粒子群优化的求解方法.该方法在二进制粒子群优化的基础上,对当前最佳粒子以变概率进行混沌优化,引导粒子跳出局部最优继续在全局范围内搜索,从而克服二进制粒子群的"早熟"收敛.通过实例验证,该算法在优化效果、搜索效率等方面均获得了较好的结果.事实证明,该算法能有效地应用于板级电路的测试性设计优化.

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学