成像掩模探测器信号与波前相位平均梯度平方和线性关系验证

作者：王斌; 马良; 杨慧珍; 龚成龙

来源：中国激光, 2018, 45(06): 128-132.

• 自适应光学
• 远场光斑
• 波前像差
• 线性关系

基于模型的无波前探测自适应光学系统具有收敛速度快、校正效果好的优势,在实时波前校正中具有较大的应用潜力。成像掩模探测器信号SMD与波前相位的平均梯度平方和SMG之间的线性关系是系统控制算法设计的基础。为了验证SMD和SMG之间的线性关系,使用37单元压电变形镜、CCD相机和哈特曼传感器等主要元件建立自适应光学系统实验平台,其中利用变形镜产生波前畸变信息,利用CCD探测远场光强分布,利用哈特曼获取波前信息。基于获得的光强信息和波前畸变信息,分别计算SMD值和SMG值。实验结果验证了SMD和SMG之间的线性关系,且线性值为0.018,非常接近理论值1/(4π2)。

• 单位
  中国矿业大学（北京）; 中国矿业大学; 电子工程学院