继电器类单机加速贮存试验测试系统的设计与实现

作者：林义刚; 董宝旭; 叶雪荣; 丁新; 翟国富

来源：电器与能效管理技术, 2019, (07): 59-65.

DOI：10.16628/j.cnki.2095-8188.2019.07.011

• 贮存
• 继电器类单机
• 试验系统
• 可靠性

继电器类单机是导弹、火箭等武器装备的重要组成部分,对其开展贮存可靠性研究具有重要意义。在分析单机贮存环境应力剖面的基础上,通过Simulink仿真确定了其贮存退化的敏感参数为接触电阻、动作时间。随后,设计并研制了具有针对性的加速贮存试验测试系统,可在开展单机加速贮存试验的过程中准确监测敏感参数的贮存退化过程。以Agilent 34401A数字万用表和Agilent DSOX 34401A数字示波器为基准对系统的测试精度进行了评估,结果表明系统的精度能够满足单机加速贮存试验的需求。

• 单位
  哈尔滨工业大学; 自动化学院