频率对射频同轴电缆介质耐电压试验影响的研究

作者：殷海成; 童攀; 张闻宇; 陈潇; 金溢文; 周歧斌; 张刚

来源：光纤与电缆及其应用技术, 2023, (04): 4-7.

DOI：10.19467/j.cnki.1006-1908.2023.04.002

• 射频同轴电缆
• 介质耐电压试验
• 击穿电压试验
• 频率
• IEC标准

为了分析频率对射频同轴电缆介质耐电压试验的影响，对常态下和低气压环境下的介质耐电压及击穿电压试验的相关理论进行了研究，并选取典型样品进行试验验证。研究结果表明频率在常态环境下和低气压环境下对介质耐电压和击穿电压试验的影响是不同的。因此，有必要对现行标准中的技术内容进行完善，使其能够满足产品在不同场景下的检测需求。

• 单位
  哈尔滨工业大学; 中国电子科技集团公司第二十三研究所; 自动化学院; 上海大学