复合激光损伤CMOS图像传感器实验研究

作者：朱孟真; 刘云; 米朝伟; 魏靖松; 陈霞; 田方涛; 冯苏茂; 王赛

来源：红外与激光工程, 2022, 51(07): 227-233.

• 光电对抗
• 复合激光
• 损伤效能
• 对比实验

激光是对抗光电侦察的有效方式。为了提高损伤效能，探索了复合激光损伤光电探测器的新思路。分别开展了波长1 064 nm和532 nm、脉宽10 ns的激光及其双波长复合激光，以及波长1 064 nm、脉宽0.4 ms和10 ns激光及其双脉宽复合激光对CMOS图像传感器的损伤效能实验。结果表明，双波长复合激光对CMOS造成严重损伤时的基频光能量是单独1 064 nm激光的77.8%，是单独532 nm激光的62.5%；双脉宽复合激光损伤时，脉宽0.4 ms激光的能量密度降低为单独作用时的1.7%，脉宽10 ns激光的能量密度降低为单独作用时的76.4%。这一发现为多制式复合激光高效光电对抗提供了新的思路和参考。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学