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摘要
利用X射线衍射（XRD）技术、傅里叶变换红外光谱（FTIR）和Raman光谱对经不同剂量的56Fe13+离子辐照的Ga P晶体的微结构进行了表征。结果表明:随着辐照离子剂量的增加,Ga P晶体中产生了局部的无序与缺陷。随着56Fe13+离子剂量的增加,Raman光谱展示出振动峰强度逐渐减弱而且一些逐渐消失,但其峰位几乎没有发生变化;XRD显示出Ga P晶体的衍射峰的强度逐渐减小;FTIR主要表现为宽化及其强度增加。这表明重离子56Fe13+的辐照使得Ga P晶体中的缺陷与无序性增加,导致晶体产生了局部的非晶化。
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单位电子工程学院; 西北师范大学; 中国科学院近代物理研究所
