摘要

采用密度泛函理论(DFT)中的广义梯度近似(GGA),对BenNO (n=2-12)团簇进行了构型优化,稳定性和电子性质分析.结果表明:从n=3开始,BenNO的基态均为NO分子平行吸附于主团簇Ben某一表面时形成的,此时N-O键自然断裂(N-O键伸长量均超过了100%),而N端吸附于Be-Be桥位的结构仅是BenNO (n=2-12)团簇的一个亚稳态结构.成键性质分析表明,NO平行吸附时,N,O原子倾向于同时吸附于近邻的三个Be原子面位,相应的Ben团簇表现出了很好的吸附能力.此时N, O原子的sp3轨道杂化出现的孤对电子对N-O键的断裂产生了重要影响.