对于接触器电寿命的检测,传统方案采用陪试品进行电路切换,用单片机技术或PLC技术控制进行数据采集。因此,对于大电流接触器(A750)电寿命检测(AC-3),很难找到合适的陪试品,并且陪试品接通和分断导致电路切换的时间很难控制,测试效率也不高,单片机技术和PLC技术采样频率不高导致得出的数据不够精确。新方案采用可控硅技术进行电路切换,测试效率高,实现了电路切换迅速、精确,IPC高频率的采样使得测试的波形和数据在人机界面清晰准确的显示。
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