本发明公开一种基于动态时隙分配的量子纠错码标记位症状测量方法,主要解决量子稳定子症状测量中时隙资源分配的问题。本发明利用构造量子比特序号矩阵将要测量的量子比特排序,利用动态时隙分配方法分配时隙,构造差错症状矩阵来分析测量时可能会出现的差错症状,并根据差错症状调整时隙排列的顺序,从而部署量子纠错码标记位测量线路图来将量子CSS码的同一类型稳定子同时测量。本发明在保证量子纠错码标记位症状测量线路容错性的同时,提高了测量线路的并行度,减少了症状测量所需的时间,优化了资源开销。
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