基于BGO晶体的断路器过电压非接触测量方法及装置

作者:张学友; 石永建; 董翔宇; 郭振宇; 柯艳国; 谢佳; 樊培培; 刘之奎; 阮巍; 黄道均; 杨乃旗; 邵华; 朱涛; 魏南; 李腾; 沈国堂; 张亮; 张军; 马凯; 黄海宏; 刘冬梅; 仝玮; 张静鑫; 崔北为
来源:2022-11-30, 中国, CN202211528331.3.

摘要

本发明实施例提供一种基于BGO晶体的断路器过电压非接触测量方法及装置,属于断路器的电压测量技术领域。所述测量装置包括:BGO晶体,设置于断路器的下方;激光源,用于向所述BGO晶体发射激光;光纤准直器,设置于所述激光源和所述BGO晶体之间,用于对所述激光执行准直操作;起偏器,设置于所述激光源和所述BGO晶体之间,用于将准直操作后的所述激光转变为线偏振光;1/4波片,设置于所述起偏器和所述BGO晶体之间,用于将所述线偏振光转换为圆偏振光;数据采集与处理单元,用于处理穿过所述BGO晶体的激光,并对所述激光进行解耦分析,以得到当前所述断路器的电压值。该测量方法及装置能够提高断路器电压测量的安全性。