抗单粒子功能中断的加固技术研究

作者：刘淼; 牛英山

来源：微处理机, 2020, 41(01): 1-5.

• 单粒子
• 单粒子功能中断
• DICE触发器
• 电流源

为降低辐射环境中单粒子功能中断(SEFI)对集成电路的影响,在研究单粒子功能中断原理的基础上,开展了DICE触发器抗单粒子功能中断技术研究。在深入分析单粒子功能中断的诱因的基础上,结合DICE触发器电路结构,设计了包含时钟冗余电路、主DICE锁存器、从DICE锁存器、延时滤波电路、相位转换电路的DICE触发器,得到了具有抗单粒子功能中断能力的加固DICE触发器。在仿真电路中,通过增加模拟单粒子效应(SEE)的电流源,仿真验证单粒子干扰(SED)对DICE触发器的影响。仿真结果表明,该加固DICE触发器具有良好的抗单粒子功能中断能力,可以有效抑制单粒子引起的DICE触发器功能中断。

• 单位
  中国电子科技集团公司