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摘要
陶质文物因其疏松多孔的结构因素，易于受周围环境影响。本研究利用X射线衍射仪(XRD)、红外光谱仪(IR)、X射线荧光光谱仪(XRF)及多功能成像光电子能谱仪(XPS)，对模拟陶块腐蚀前后的成分、物相结构、官能团等进行检测分析，结果表明：腐蚀性氯离子对陶质样品中钠长石结构具有破坏性，可以与陶块硅酸盐骨架中阳离子发生静电吸附，引起Ca2+、Na+和Mg2+等金属阳离子的溶解迁移，且浓度越高腐蚀性越强。氯离子对陶质样块腐蚀机理研究不仅有助于推动酥粉陶器的可溶盐腐蚀机理研究，也能够为酥粉陶质文物保护提供科学依据和理论指导。
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