光与原子纠缠存储寿命与磁场噪声关系的实验研究

作者：王登新; 王圣智; 张常睿; 徐忠孝^*; 李淑静; 王海

来源：量子光学学报, 2020, 26(01): 40-46.

• 冷原子系综
• 自发拉曼散射
• 光与原子纠缠
• 磁场噪声

在冷原子系综中,利用自发拉曼散射过程产生光与原子纠缠,测量了恢复效率随存储时间的关系。实验结果显示在没有施加轴向磁场时的存储寿命仅仅只有40μs。而在施加轴向磁场的情况下,存储时间在50μs以后甚至在400μs时都可以测量到明显的恢复信号,存储寿命明显高于100μs,远高于未施加轴向磁场时的情况。对这个实验现象进行分析认为:原子所处的环境中存在磁场噪声的影响,当没有轴向磁场时,噪声会扰乱自旋波信号的相位;当有轴向磁场时,磁场噪声对自旋波相位的影响便被抑制了。

• 单位
  山西大学; 量子光学与光量子器件国家重点实验室