基于TRIZ的RAM存储器掉电保护电路的优化设计

作者：刘修泉; 杨伟; 李艳红

来源：机电工程技术, 2021, 50(08): 127-130.

• TRIZ
• 掉电保护
• 数据丢失
• 创新

为解决数控机床掉电重启后用户程数据丢失的问题,运用TRIZ方法对RAM存储器掉电保护电路系统进行了改进与优化设计。首先对RAM存储器掉电保护电路存在的问题进行了描述,采用功能分析、因果链分析对该初始问题进行了全面深入剖析,找出关键问题,然后利用物理矛盾和裁剪工具、物场模型和标准解建立3个解决方案模型,并对3个方案进行评估,将最优方案实施,数控机床掉电重启后用户程序数据不再丢失。利用TRIZ创新方法可以有效解决实际的工程问题,验证了方案优化设计可行性,为以后实际工程问题提供了一种新思路。

• 单位
  机电工程学院; 佛山职业技术学院