数字芯片中时钟产生模块的设计与验证

作者:杨斌; 史亚维
来源:电子世界, 2018, (18): 153.
DOI:10.19353/j.cnki.dzsj.2018.18.079

摘要

<正>随着今年美国对中兴芯片禁止事件的发展,国人对芯片越来越重视,然而时钟产生模块(Clock Generation Unit, CGU)是数字芯片不可缺少的一部分。因此,本文给出了数字芯片中时钟产生模块的基本设计结构,提出了基于C语言的直接功能验证和基于UVM方法学的随机功能验证结合的有效方法,达到了功能覆盖率和代码覆盖率的要求,使得设计更符合功能要求。