采用小角X射线散射法,在普通的X射线衍射仪上实现纳米级氧化锆粒度分布的表征;并按照国标(GB/T13221-2004)的标准,使用SAXS程序计算出纳米氧化锆的粒度分布范围在1~36nm之间。与纳米氧化锆的TEM图像相比较,对比结果表明该方法测得的纳米氧化锆粒度可靠。