SiO2纳米改性对PE击穿场强影响的模拟分析

作者:郭睿*; 朱伟林; 于金旭; 王海玉; 张晋
来源:光纤与电缆及其应用技术, 2020, (03): 6-31.
DOI:10.19467/j.cnki.1006-1908.2020.03.002

摘要

通过Materials Studio软件建立无定型聚乙烯(PE)和PE/二氧化硅(SiO2)界面模型,基于密度泛函理论计算PE和PE/SiO2模型的电子能量,模拟得到PE和PE/SiO2界面模型的击穿场强和陷阱深度。得到结论,纳米SiO2颗粒的加入能够有效提高PE材料的击穿场强,改善材料的耐击穿性能。

  • 单位
    中国电子科技集团公司第二十三研究所