发展了激光辅助聚焦等离子体电离源-质谱分析技术，该技术采用激光对基质表面的样品进行解吸，适用于难挥发性化合物的高灵敏度分析。详细考察了采样模式和几何参数对分析结果的影响，发现随着激光光源距离样品载体表面越近，解吸效果越好，质谱分析信号越高，当二者距离为2 cm时所得质谱信号最高；同时发现激光辅助聚焦等离子体电离源适用于复杂基质中难挥发目标化合物的快速、高灵敏度分析。
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