Stanford B型主动脉夹层患者TEVAR术后发生植入后综合征的危险因素

作者：李高山; 潘文旭; 高智春; 尹纯; 胡美玲; 王颖; 晋军^*

来源：陆军军医大学学报, 2023, 45(20): 2149-2158.

DOI：10.16016/j.2097-0927.202307091

• 主动脉夹层
• 胸主动脉腔内修复术
• 植入后综合征
• 全身炎症反应综合征

目的 探讨Stanford B型主动脉夹层(type B aortic dissection, TBAD)患者接受胸主动脉腔内修复术(thoracic endovascular aortic repair, TEVAR)后发生植入后综合征(post-implantation syndrome, PIS)的危险因素以及PIS与短期预后的关联。方法 采用病例-对照研究设计方案，筛选2013年12月至2022年12月于我科接受TEVAR治疗TBAD患者的临床资料。根据患者术后是否发生PIS分为两组，探索影响PIS的独立相关因素。观察两组患者术后30天内全因死亡情况，绘制Kaplan-Meier生存曲线评估两组患者的术后30天生存情况，建立Logistic回归模型探索PIS与TEVAR术后30天全因死亡的关联。结果 研究纳入373名TBAD患者，年龄(57.9±12.1)岁，其中男性289例(77.5%)。TEVAR术后发生PIS 106例(28.4%)。PIS组患者植入支架数量≥2个、手术时长≥2 h和植入聚对苯二甲酸乙二醇酯(polyethylene terephthalate, PET)覆膜材料支架的患者比例均显著高于非PIS组(P<0.05)。多因素Logistic回归分析结果提示植入支架数≥2个(OR=1.886,95%CI:1.049～3.389,P=0.034)、手术时长≥2 h(OR=1.938,95%CI:1.147～3.275,P=0.013)和植入PET覆膜材料支架(OR=2.131,95%CI:1.263～3.597,P=0.005)是TEVAR术后发生PIS的独立危险因素。TEVAR术后30天内共发生死亡15例(4.0%),其中PIS组10例(9.4%),非PIS组5例(1.9%)。Kaplan-Meier曲线显示PIS组术后30天的生存曲线显著低于非PIS组(Log-rank P=0.000 7)。多因素Logistic回归模型显示胱抑素C(OR=1.486,95%CI:1.053～2.097,P=0.024)和PIS(OR=5.628,95%CI:1.836～17.248,P=0.002)是TBAD患者TEAVR术后30天内死亡的独立危险因素。结论 植入支架数≥2、手术时长≥2 h和植入PET覆膜材料支架与TEVAR术后发生PIS密切相关；而胱抑素C和术后发生PIS是TEVAR术后30天预后不良的重要危险因素。

• 单位
  第三军医大学; 中国人民解放军陆军军医大学