TC4管件端口电磁校形的实验研究

作者:聂鹏; 李聪; 王哲峰; 朱树峰
来源:机械设计与制造, 2019, (07): 135-138.
DOI:10.19356/j.cnki.1001-3997.2019.07.034

摘要

由于钛合金室温下成形性能差,航空领域一直存在对TC4管件端口校形难的问题。针对此问题对TC4管件端口电磁校形的过程进行了研究,采用该方法对内径23mm,壁厚1mm的TC4管件进行电磁校形实验,并将管件端口的圆度作为评价指标,研究了放电电压、线圈层数、放电次数及驱动片厚度对钛管电磁校形的影响。研究表明:提高放电电压可有效提高校形效果,当放电电压一定时,可通过增加线圈层数来提高校形精度;放电次数可以解决放电电压低,钛管变形小的问题,两次放电后校形效果提升不明显,增加放电次数无法从根本上提高管件电磁校形的精度;驱动片厚度的合理选择对TC4等低导电率材料的电磁校形具有重大意义,厚度过小与过大都会影响电磁校形的效果,其最优为趋肤深度厚度。

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