摘要
本文研究了基于进化卷积神经网络算法的开孔外壳屏蔽效能预测。电子设备工作频率逐渐提高,电磁辐射噪声日益严重,采用屏蔽外壳是有效抑制电磁干扰的常用方法。然而,由于散热和接线,外壳会带有孔洞,极大地影响了其屏蔽效能,部分外壳内部介质板的存在也对屏蔽效能产生了一定的影响。本文对含介质板开孔外壳建模后,通过传输线方法(TLM)建立等效电路模型,然后通过进化卷积神经网络算法(Evolutionary Convolutional Neural Network Algorithms,ECNN)得到验证参数,从而得到外壳屏蔽效能。利用CST对相应外壳进行仿真分析后,对比屏蔽效能仿真结果和算法结果,证明了该方法结果的准确性和可靠性。通过等效电路计算箱内各点屏蔽效能,最后通过电波暗室远场测量各点辐射强度来验证预测结果。
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