摘要
半导体激光器的强度和相位起伏一直是影响其应用的关键所在.在实验上研究了自由运转模式下半导体激光器的强度噪声.采用自制的分辨率为0.01nm的光谱仪成功地分辨出数十个边模,并利用射频低噪声光电探测器系统,分析了激光器的主模与边模之间以及各边模之间的强度噪声关联特性.从实验上证实了主模与边模之间的负关联效应,同时观察到边模之间存在的周期性负关联.该结果对进一步认识半导体激光器噪声的产生机制及强度压缩光的产生机制具有重要意义.
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单位山西大学; 量子光学与光量子器件国家重点实验室