一种具备MBIST功能的Flash型FPGA配置芯片设计

作者：柯志鸣; 党堃原; 单宝琛; 丛红艳

来源：电子与封装, 2022, 22(11): 40-45.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1103

• Flash型配置芯片
• MBIST
• 非易失性
• FPGA

Flash型FPGA配置芯片相较于反熔丝配置芯片和可擦除可编程只读存储器（EPROM）型配置芯片，具有非易失性、功耗低、安全性高、可多次编程等更优异的特点。设计了一款具备存储器内建自测试（MBIST）功能的Flash型FPGA配置芯片，在March C-的基础上，提出了一种更全面的测试算法，该算法可以有效提高测试故障覆盖率，并且自身会对测试结果的正确性进行判断，从而快速有效地对Flash功能的正确性进行检验。由于Flash具有非易失性、集成度高等特点，且设计具备MBIST功能，该配置芯片可以满足复杂场景及广泛的应用需求。