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摘要
以中心位置携带孔缝的机载电子设备屏蔽腔体为研究对象，建立能够计算平面波辐照下腔体屏蔽效能的BLT(Baum-Liu-Tesche)方程。针对Robinson孔阵阻抗计算误差较大这一问题，引入偏心系数Cmk修正孔阵阻抗，修正后BLT方程能准确计算开有任意位置孔阵腔体的屏蔽效能。通过对电磁波电场进行矢量分解，实现了任意极化角度下屏蔽腔体屏蔽效能的计算。结果表明，屏蔽腔体屏蔽效能随孔缝数量的增加而升高，极化角度的增大会增强屏蔽腔体电磁屏蔽能力。将BLT方程计算结果与Robinson法结果、CST仿真结果进行对比，证明BLT方程具有准确性，为计算机载电子设备屏蔽腔体屏蔽效能提供了一种有效方法。
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