谐振腔法测量W波段有耗介质材料

作者：侯筱琬; 薛谦忠

来源：微波学报, 2016, S2: 190-192.

• w波段
• 谐振腔
• 复介电常数
• 谐振频率
• 品质因数

本文利用谐振腔法测量w波段有耗介质复介电常数和磁导率。通过测量加载有耗介质谐振腔的谐振特性,即谐振频率和品质因数,以及它们与介电常数ε和损耗角正切值tanδ的对应关系,从而获得介质样品的复介电常数。

• 单位
  中国科学院电子学研究所