光刻胶树脂结构与性能技术进展

作者:陈寿天宝; 张念椿; 魏永明; 马晓华; 杨虎; 庄黎伟; 汤初阳; 李金荣; 郑鹤立; 许振良*
来源:山东化工, 2022, 51(22): 117-124.
DOI:10.19319/j.cnki.issn.1008-021x.2022.22.043

摘要

光刻工艺随集成电路的发展成为核心环节,被誉为集成电路制造这顶皇冠上最耀眼的明珠。而光刻技术离不开其辅助材料光刻胶,每一代光刻技术得到的突破都将在相应光刻胶技术上得到体现,从436 nm光刻技术到248 nm KrF光刻技术、193 nm ArF光刻技术再到EUV光刻技术等,与之相应的光刻胶也不尽相同。