特高压系统用电容器组开关弧触头失效分析

作者:张乔; 杨晓红; 刘北阳; 张振乾; 李心一; 梁淑华
来源:高压电器, 2016, 52(07): 27-32.
DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2016.07.004

摘要

为了提高特高压系统用电容器组开关弧触头的使用寿命,在拟工况环境下对其进行电寿命实验,发现Cu W/Cu Cr弧触头在近千次开合实验后失效。通过对失效前后弧触头的形貌、成分、组织及性能变化进行分析研究,寻找影响弧触头使用寿命的主要因素。结果表明:特高压系统用电容器组开关弧触头除电弧烧蚀引起弧触头失效外,机械磨损及挤压变形也是影响其使用寿命的关键因素。因此,协同提高耐电弧烧蚀、抗机械磨损及挤压变形的能力是制备高电气寿命触头材料的关键。

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