摘要

通过强光辐照光电成像系统实验研究,得到了饱和像元数与入射光强、光学系统参数、像元饱和阈值等参数之间的变化规律,并利用光学系统点扩展函数(PSF)进行了理论验证。结果表明,饱和像元主要由衍射效应引起。推导了饱和像元数与入射光强、波长、光学系统参数、像元饱和阈值等参数之间的关系。