存储多元化发展 检测设备变革期来临

来源：电子技术与软件工程, 2019, (07): 11-13.

<正>20世纪70年代末期,国外开启了对于存储测试技术的研究,而国内在1983年首次提出研究数据的存储测试方法,在80年代至90年代,中国研制成功存储测试系统。但是到了今天,随着人们对智能化的追求步伐越来越快,数据爆炸式增长,市场对大容量存储器有了硬性需求,单个的存储芯片已经难以满足设备运行中大量数据流的读取和储存。于是,各大存储设备厂别出心裁,推出了一种创新模式,也就是"叠加存储"——将多个存储器与逻辑芯片