BIT技术在星载电子设备的应用

作者：兰超; 王婧琼

来源：空间控制技术与应用, 2015, 41(01): 50-54.

• 机内测试
• 星载电子设备
• 测试体系
• 分级思想

在调研国内外最新BIT技术发展的基础上,对该技术在星载电子设备应用的必要性及可行性进行分析,并利用分级思想构建适合星载电子设备的BIT测试体系,为星载电子设备的可测试性发展提供了一种思路.

• 单位
  山东航天电子技术研究所