低掺磷YP_xV_(1-x)O_4单晶的生长与性能

作者：赵斌; 庄乃锋; 王永好; 陈建中

来源：福州大学学报(自然科学版), 2005, (03): 374-378.

• Czochraski法
• YPxV1-xO4晶体
• 折射率
• 透过率
• 晶胞参数
• 激光损伤阈值 Czochraski method
• YP_xV_(1-x)O_4 single crystal
• refractive index
• transparence
• lattice parameters
• optical damage threshold

用提拉法生长了四方锆石型YPxV1-xO4(x≤0.15)晶体.对晶体中P元素浓度的测定结果表明,YPxV1-xO4单晶可以按化学计量比生长.测定了晶体的晶胞参数、折射率和激光损伤阈值.晶体在400～3000nm波长范围的透过率达到80%且无吸收峰,而且,晶体几乎不发出荧光.综合各项测试结果可以推论:YPxV1-xO4晶体适于作为稀土离子的激光基质晶体.

• 单位
  化学化工学院; 福州大学