一种全负载范围的谷底检测电路设计

作者：郭俊; 韩雨衡; 何泽炜; 李威

来源：微电子学与计算机, 2015, 32(02): 115-118.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2015.02.027

• 全负载范围
• 谷底检测
• 准谐振
• 开关电源
• 高精度

针对反激式开关电源拓扑,在基于前人对准谐振软开关研究的基础上,提出了一种简单实用的谷底检测电路,在全负载范围都能精确检测出谷底出现时刻,适用于谐振频率在一定范围变化的场合,方便外围拓扑设计.基于TSMC0.5μm BCD工艺,经Spectre仿真实验表明,在谐振频率低于2 MHz不同负载情况下,能比较精确检测出谷底时刻(误差小于1‰).

• 单位
  电子科技大学; 电子薄膜与集成器件国家重点实验室