摘要
以邻苯二甲酸氢钾(KHpht)作为络合剂,采用水热法制备出碱式硫酸镁(MOS)纳米线。通过电位滴定法分析了体系中pht2–与Mg2+的络合作用,并采用X射线光电子能谱(XPS)、傅里叶变换红外光谱仪(FT-IR)和透射电子显微镜(TEM)等表征手段对pht2–的吸附作用进行了研究。结果表明:pht2–与Mg2+发生络合反应,使得体系中游离的Mg2+浓度大幅降低,过饱和度也随之降低;MOS晶体表面存在着Mg-pht的化学键合作用,由于各晶面的晶格排列方式不同,使得pht2–在MOS晶体侧面吸附比例大于纵向生长面,从而促进了高长径比MOS纳米线的生长。
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