开关电源SiP技术应用研究

作者：袁柱六; 张崎; 袁宝山; 曲明山; 王宁; 刘云鹏

来源：电子元件与材料, 2018, 37(01): 66-70.

DOI：10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.01.013

• SiP
• LTCC
• HTCC
• 标准单元电路
• 可靠性
• 开关电源

通过对开关电源内部标准单元电路构成和内部元器件的特性分析研究,结合Si P技术,采用LTCC/HTCC工艺技术制作多层3D结构,实现开关电源电路中标准单元电路3D结构设计,有效提高了空间利用率,减小了体积。同时对该结构的热力载荷进行了可靠性分析,最后通过实际产品设计验证,证明Si P技术在开关电源中应用的可行性。

• 单位
  成都宏明电子科大新材料有限公司; 中国电子科技集团公司