IGBT静态参数测试方法研究

作者：李更生; 杨莉; 徐庆坤; 张永健

来源：电力电子技术, 2012, (12): 55-56+59.

• 晶体管
• 静态参数
• 模块化结构 transistor
• static parameter
• modular structure

通过对IGBT器件静态参数测试方法的研究,初步设计了基于LabVIEW图形化程序为控制平台,并采用单片微处理器嵌入式结构的全自动IGBT及快恢复二极管(FRD)静态参数综合测试系统,能够按照不同的要求和模块芯片结构,通过计算机编程来完成测试任务。

• 单位
  西安电力电子技术研究所