基于板级电路加速退化数据的可靠性分析

作者：王玉明; 蔡金燕

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2009, (01): 9-12.

• 加速试验
• 性能退化
• 可靠性

基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题。对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验,监测到输出电压随温度变化的退化过程。由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学