异质界面个数对PbZr0.52Ti0.48O3/Ba(Mg1/3Ta2/3)O3薄膜铁电性能的影响

作者：吴智; 周静^*; 张丽娟; 郑丛; 魏其家; 袁龙华; 朱莉云

来源：中国陶瓷, 2019, 55(06): 20-24.

DOI：10.16521/j.cnki.issn.1001-9642.2019.06.004

• 界面个数
• PZT/BMT薄膜
• 铁电性能

采用溶胶-凝胶法制备PbZr0.52Ti0.48O3(PZT)薄膜前驱体溶液,采用水溶液凝胶法制备Ba(Mg1/3Ta2/3)O3(BMT)薄膜前驱体溶液。研究了异质界面个数对PZT/BMT薄膜微观形貌、铁电性能的影响。在PZT/BMT薄膜中,PZT薄膜没有裂纹、结晶良好,界面个数的增加有利于PZT薄膜结构的致密。界面个数的增加可降低PZT/BMT薄膜剩余极化值和矫顽场。PZT/BMT薄膜在适当偏置电场下存在一个介电峰值,且正负偏置电场下的介电峰值不同,介电偏压特性曲线呈现不对称分布。采用二极管等效界面势垒和对薄膜电滞回线求导可有效解释介电偏压特性曲线不对称和介电峰值的差异。

• 单位
  湖南工学院; 武汉理工大学