非晶硅平板探测器不一致性校正技术

作者：梁丽红; 王晓; 路宏年

来源：光电工程, 2005, (08): 36-39.

• 非晶硅平板探测器
• 线性校正
• 像元灵敏度 Amorphous silicon flat-panel detectors
• Linear correction
• Image elements sensitivity

针对非晶硅平板探测器不一致性偏大,导致探测器灵敏度出现非线性的问题,提出了基于探测器像元灵敏度均值的校正方法。此方法基于线性拟合校正的思想,在一定管电压下,改变管电流采集一组探测器基准图像,利用这组图像与其相应均值进行拟合,再把拟合系数作为校正因子对试件成像进行校正。该方法通过缩小校正的输入范围,满足线性系统成立的条件,使非线性问题线性化,实现了各像元点对点的线性校正。实验结果表明,与常规线性校正相比,该方法不仅提高了系统成像的动态范围,而且随着标准差的降低,信噪比相应地提高了近1.3倍。

• 单位
  北京航空航天大学; 北华航天工业学院; 中国特种设备检测研究院